QFN, QFP, Socket
QFN/QFP35 测试插座专为测试高性能的四方扁平无引脚（QFN）、四方扁平封装（QFP）、双侧引脚扁平封装（DFN）以及小形状封装（SO）等种种封装而设计。 。。。。。。
适用于产品开发、特征剖析、高速老化测试以及小批量生产的手动测试环节；；；；；；；；
主要特点：
适配QFN、QFP、DFN和SOIC 封装。 。。。。。。
可用于：芯片开发、认证、高速老化、小批量生产。 。。。。。。
微型冲压触点，，，，， ，，，极短信号路径。 。。。。。。
去耦空间，，，，， ，，，允许在近器件位置安排无源器件。 。。。。。。
适用多个兼容接地触点，，，，， ，，，可降低接地电感。 。。。。。。
适用于产品开发、特征剖析、高速老化测试以及小批量生产的手动测试环节；；；；；；；；
主要特点：
适配QFN、QFP、DFN和SOIC 封装。 。。。。。。
可用于：芯片开发、认证、高速老化、小批量生产。 。。。。。。
微型冲压触点，，，，， ，，，极短信号路径。 。。。。。。
去耦空间，，，，， ，，，允许在近器件位置安排无源器件。 。。。。。。
适用多个兼容接地触点，，，，， ，，，可降低接地电感。 。。。。。。
